Лаборатория электронной микроскопии

Лаборатория электронной микроскопии


Сайт находится на реконструкции

УрФУ им. Б.Н.Ельцина

Исследования
Достижения
Сотрудники
Проекты
Публикации
Связи
Оборудование
Галерея
Видео, in situ
Ссылки
Вакансии

Публикации main


до 200820082009201020112012201320142015main

!Публикации защищены авторским правом и даются только для личного ознакомления.
  1. Колосов В.Ю., Швамм К.Л., Гайнутдинов Р.В., Толстихина А.Л., Комбинированное ПЭМ-АСМ исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных плёнках, Известия РАН. Серия физическая, т. 71, №10, 2007 с. 1481-1485.
    также на английском Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Combined TEM-AFM Study of "Transrotational" Spherulites Growing in Thin Amorphous Films, Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, 2007, Vol. 71, No. 10, pp. 1442-1446

  2. Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Novel transrotational structures: combination of AFM and TEM studies of amorphous-crystalline transformation and interface in thin films, abstracts of 17th International Vacuum Congress, CD-disk, 2007, TFSE10-Or1
    also: Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Gainutdinov R.V., Tolstikhina A.L., Combined AFM-TEM studies of amorphous-crystalline transformation and interface in thin films of Se and Fe2O3, Journal of Physics: Conference series, V. 100, 2008

  3. Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Steeds J.W., TEM of lattice bending in crystallized areas of anodized Ta-O films, abstracts of 17th International Vacuum Congress, CD-disk, 2007, TFSEP4-270
    also: Journal of Physics: Conference series, V. 100, 2008

  4. Kolosov V.Yu., Schwamm C.L., Steeds J.W., Lattice bending in crystallized areas of anodized Ta-O films, Proc. The 16th International Microscopy Congress (IMC16, Sapporo, Japan), 2006, V. 3, p. 1744

  5. Kolosov V.Yu., Veretennikov L.M., TEM studies of the microstructure resulted from amorphous-crystalline transition under electron beam irradiation in chalcogenide-based films, Proc. The 16th International Microscopy Congress (IMC16, Sapporo, Japan), 2006, V. 3, p. 1465

  6. Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Старцева Ю.Б., Швамм К.Л. Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутрен-нее искривление кристаллической решётки, Физика и техника полупроводников 2005, т.39, вып. 8, с. 990-994.

  7. Kolosov V., Schwamm C., Gainutdinov R., Tolstikhina A. Combined TEM-AFM studies of “transrotational” spherulites growing in amorphous films, Proc. of 12th Int. Symp. “Nanostructures: Physics and Technology” St. Petersburg, Russia, 2004, p.166-167

  8. Kolosov V. TEM of crystallizing amorphous films: novel "transrotational" structure on the scale micro - meso - nano, Proc. of 13th EMC, Antwerp, 2004, V. II, p. 255-256

  9. Kolosov V., Gainutdinov R., Schwamm C., TolstikhinaA. Combination of TEM and AFM: microstructure of spherulites growing in amorphous films, Proc. of 13th EMC, Antwerp, 2004, V. II, p. 253-254

  10. Колосов В.Ю., Веретенников Л.М., Швамм К.Л., электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов в аморфных плёнках теллур-медь переменного состава и толщины, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. N 1, 2004, 95.

  11. А.Г. Багмут, С.Н. Григоров, В.Ю. Колосов, В.М. Косевич, Г.П. Николайчук, Структура и морфология кристаллов, растущих в аморфных лазерных конденсатах Cr2O3, М. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2003, N 10, 70-76

  12. V.Yu. Kolosov, L. M. Veretennikov Electron microscopy investigation of the influence of thickness on crystal growth in amorphous films of selenium and antimony compounds Surface investigation, 2001, Vol. 16, pp. 361-367

  13. Kolosov V. Yu. and Tholen A. R. Transmission electron microscopy studies of the specific structure of crystals formed by phase transition in iron oxide amorphous films, Acta Mater. (2000) 48, 1829-1840

  14. Kolosov V.Yu., Tholen A.R., Regularly bent nanocrystals formed in an amorphous film of Fe2O3, Nanostructured Materials, 1997, v. 9, p.323-326.

  15. Колосов В.Ю., Веретенников Л.М. Электронно-микроскопическое исследование роста кристаллов Sb2Se3 в тонких аморфных плёнках Известия РАН, сер. физическая, 1995, Т. 59, N 2, с. 55-59

  16. Kolosov V.Yu., Veretennikov L.M., Kuzmin A.A., Mamaev V.A. Tem study of lattice bending in Sb2Se3 crystals grown in amorphous films, ICEM-13, Paris, 1994, V. 2a, p. 397-398

  17. Kolosov V.Yu. Possibilities of the bend-contour method in the analysis of the lattice disorientations in crystals on thin-film transformations, Proceedings of the ХIIth International Congress for Electron Microscopy, 1990, Seattle, p.574-575

  18. Kolosov V. Yu. ТЕМ studies of unusual lattice bending in the crystallites formed in amorphous films by electron beam, EUREM 92, Electron Microscopy, V 2, Granada, Spain, 1992, p. 513-514

  19. Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Malkov V.B., Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement III (formation of subgrain boundaries in dislocation-free crystals of selenium), Phys. stat. sol. V. 95, 1986, p. 377-383

  20. Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Kozhin A.V., Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement II (Bending phenomena of the crystal growth in an amorphous films), Phys. stat. sol., V. 72, 1982, p. 645-654

  21. Bolotov I.E., Kolosov V.Yu, Electron microscopy investigation of crystals based on bend-contour arrangement I (Relations between bend-contour arrangement and bend geometry) Phys. stat. sol. V. 69, 1982, p. 85-96

  22. И. Е. Болотов, В. Ю. Колосов Возможности метода экстинкционных контуров в исследовании изгиба тонкоплёночных объектов, Заводская лаборатория, 1982, Т. 48, №11, стр. 53-57

Устные и приглашенные доклады выделены курсивом